본 발명은 테스트 시간을 짧게 하면서도, 기존의 방법보다 하드웨어 오버헤드를 줄인 아날로그디지털 변환기(ADC)에 대한 내장된 자체 테스트 방법(BIST: Built-in Self-test)에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 램프신호를 테스트 신호로 사용함으로써 저장해야 하는 레프런스값을 하나로 할 수 있다. ADC의 정적 파라미터인 옵셋, 이득, DNL, INL을 히스토그램 방법을 이용하여 계산하는 식을 제시하였고 이 식들의 연관성을 이용하여 하드웨어 오버헤드를 줄일 수 있었다. 정적 파라미터들을 계산하기 위해 와 을 계산하는 구조가 필요한데, 이것을 위해 하나의 카운터 및 다운카운터를 사용하였다. 두개의 카운터를 통해 간단하게 정적 파라미터를 계산함으로써 하드웨어 오버헤드를 기존의 방법들보다 줄일 수가 있다.ADC BIST, Analog to digital converter, Built-in self-test, analog testing