본 발명은 평행광 발생을 위한 환형광원 설계 시 고려되는 발광다이오드(LED)의 입사각 측정 장치와 측정방법에 관한 것으로서, 보다 상세히는, LED를 이용한 환형광원의 응용분야 특성에 따른 광원설계 이전에 LED 환형광원의 고휘도 평행광 발생을 위한 LED의 입사각을 측정하는 LED 입사각 측정 장치와 측정방법에 관한 것이다.본 발명의 LED 환형광원의 평행광 발생을 위한 LED 입사각 측정 장치는 중앙에 CCD 카메라(10)가 위치하여 카메라 주로(60)를 따라 유동하여 다양한 크기의 CCD 카메라를 허용하도록 하고, 반사판(110)상의 LED(20)의 조도 분포를 촬영하며, 입사각측정 테이블(120)위 CCD 카메라(10)의 좌우 양옆에 회전 스테이지(30)가 회전스테이지 주로(50)를 따라 유동하여 환형광원의 외주면의 직경에 따라 그 위치를 조정할 수 있도록 하였고, 회전 스테이지(30) 위에는 인쇄회로기판(80)이 위치하며, 인쇄회로기판(80)에는 LED(20)가 탈부착이 가능하도록 하여 다양한 LED의 특성분석이 가능하며, 인쇄회로기판(80)은 회전 스테이지(30)에 장착된 회로기판 지지대(70)의 회로기판 주로(90)를 따라 유동하여 다양한 CCD 카메라의 크기에 따라 그 높이를 조정할 수 있다. 입사각측정 테이블(120) 밑에 장착된 이동스테이지 상부(40)의 트랙결합 홈(43)이 이동스테이지 하부(100)의 트랙(105)과 결합되어, 입사각측정 테이블(120)을 트랙(105)에 따라 이동, 고정하여 다양한 초점거리에서 요구 조도에 대해 균일한 조도를 제공하는 LED의 입사각에 대한 정보를 제공하게 된다. CCD 카메라(10)에 의해 획득된 영상을 이용하여 반사판(110) 상의 조도 프로파일 정보를 분석함으로서, 고휘도 및 균일한 조도 분포를 얻기 위해 환형광원 설계 시 고려되는 환형광원 외주면의 직경, LED의 발산각과 광학계의 초점거리에 의존적인 LED의 입사각에 따른 반사판상의 조도분포를 정량화할 수 있다. 환형광원, 발광다이오드 조명장치, 발광다이오드 측정 장치, 평행광 발생장치, 조도분포 분석